Дакладнасць электронных і аптычных мікраскопаў адрозніваецца ў залежнасці ад тыпу і канструкцыі, наступным чынам:
Дакладнасць электроннай мікраскапіі
Прасвечвальная электронная мікраскапія (ПЭМ): у цяперашні час дакладнасць раздзяляльнай здольнасці прасвечвальнай электроннай мікраскапіі дазваляе адрозніваць структуры памерам менш за 0,2 мкм, а палярная мяжа раздзяляльнай здольнасці можа дасягаць 0,1 нм. Напрыклад, некаторыя добрыя прасвечвальныя электронныя мікраскопы маюць раздзяляльную здольнасць ад 1,5 да 2 Å (1 Å = 0,1 нм), што дазваляе адрозніваць практычна ўсе атамы.
Сканіруючая электронная мікраскапія (СЭМ): звычайна дасягаецца прасторавае разрозненне 1 мкм³, хоць дакладнасць можа адрознівацца ў залежнасці ад тыпу абсталявання і ўмоў назірання.
Дакладнасць светлавой мікраскапіі
Агульная аптычная мікраскапія: яе гранічная раздзяляльная здольнасць звычайна складае каля 250 нм, што ў мільён разоў вышэй за раздзяляльную здольнасць чалавечага вока (0,25 мм). Аднак раздзяляльную здольнасць і павелічэнне аптычнай мікраскапіі можна значна палепшыць, выкарыстоўваючы высокадакладныя лінзы і аптычныя метады.
Высокадакладны аптычны мікраскоп: напрыклад, лічбавы аптычны мікраскоп, яго раздзяляльная здольнасць можа дасягаць 0,1 мкм, а павелічэнне — да 5000 разоў. Акрамя таго, існуюць высокадакладныя аналітычныя прыборы, заснаваныя на прынцыпе інтэрферэнцыі белага святла, такія як трохмерная аптычная мікраскапія, якая дазваляе вымяраць тапаграфію паверхні з субнанаметровым раздзяленнем.
Спецыяльная аптычная мікраскапія: напрыклад, аптычная нанаскапія з дакладнасцю пазіцыянавання 2 нм, напрыклад, тэхналогія MINFLUX, што азначае, што нанамаштабная мікраскапія афіцыйна ўвайшла ў сферу даследаванняў у галіне навук аб жыцці.
Час публікацыі: 01 лістапада 2025 г.